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半导体电阻率测试仪
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产品型号:
SHY-JBD86A
产品名称:
半导体电阻率测试仪
产品报价:
产品特点:
半导体电阻率测试仪是根据四探针原理,适合半导体器材厂,材料厂用于测量半导体材料(片状、棒状)的体电阻率,方块电阻(簿层电阻),也可以用作测量金属薄层电阻,经过对用户、半导体厂测试的调查,根据美国ASTM标准的规定,在电路和探头方面作了修改和,适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要,成为普及型的电阻率测试仪,具有测量精度高,稳定性好,输入阻抗高,使用方便、价
  SHY-JBD86A半导体电阻率测试仪的详细资料:

 货号:ZH9054 
产品简介:
半导体电阻率测试仪是根据四探针原理,适合半导体器材厂,材料厂用于测量半导体材料(片状、棒状)的体电阻率,方块电阻(簿层电阻),也可以用作测量金属薄层电阻,经过对用户、半导体厂测试的调查,根据美国ASTM标准的规定,在电路和探头方面作了修改和,适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要,成为普及型的电阻率测试仪,具有测量精度高,稳定性好,输入阻抗高,使用方便、价格低廉等特点。
半导体电阻率测试仪指标:
测量范围:电阻率10-3—103Ω-cm,分辩率为10-4Ω-cm ,可扩展到105Ω-cm
          方块电阻10-2—104Ω/□,分辩率为10-3Ω/□,可扩展到106Ω/□
          薄层金属电阻10-4—105Ω,分辩率为10-4Ω
半导体电阻率测试仪可测半导体材料尺寸:直径Φ15—Φ125mm;
长度:150mm(可扩展500mm)
测量方式:轴向、断面均可
数字电压表:
量程:20mV(分辩率:10μV)、200mV、2V
测量误差:±0.3%读数±1字
输入阻抗:大于108Ω
显示3 1/2 位红色发光二极管(LED)数字显示
0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示
恒流源:由交流供电
直流电流:0—100mA连续可调
量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
分辩率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
电流误差:±0.3%读数±2字
电性能模拟考核误差:<±0.3%符合ASTM指标
测试探头:(1)探针机械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指标
电源:交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W
电气箱外形尺寸:119×440×320mm
 

 

产品相关关键字: 半导体电阻率测试仪
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