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产品型号： |
WBLH-200J |
产品名称： |
高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 |
产品报价： |
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产品特点： |
本仪器采用了涡流测厚方法，可损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。 |
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WBLH-200J高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计的详细资料： |
高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本
型号：WBLH-200J | 货号：ZH6917 | | 产品简介
本仪器采用了涡流测厚方法，可损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法:高频涡流式
测定对象:非磁性金属上缘层
测定范围:电磁式：0～800um或0～32.0mils
测定精度:<50um±1um >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限设定:可设定上/下限数值
测试单位:公/英制互换
显示方式:LCD数显
操作面板:密封防水按键
附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
体积:80（W）×80（D）×30（H）
重量:1100g | 
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| 产品相关关键字： 高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 WBLH-200J |
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