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显微图像分析仪 型号:KCJX-2000
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产品型号:
KCJX-2000
产品名称:
显微图像分析仪 型号:KCJX-2000
产品报价:
产品特点:
适用于冶金、电子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、医药、金属、非金属矿等各种粉体颗粒的形貌观察和粒度分析;还可用于陶瓷.金属合金等各种不透光的物体表面结构的观察测试。
  KCJX-2000显微图像分析仪 型号:KCJX-2000的详细资料:

显微图像分析仪
型号:KCJX-2000
货号:ZH1632
  
 
产品简介:
主要性能:光学显微镜放大成像,专业级摄像头,高速高分辨率图像采集卡,图像动态快速显示于电脑,直接观察粉体颗粒的形貌,专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜,zui大分辨率0.07微米,zui大光学放大倍数1600倍,图像显示和打印zui大倍数4000倍(A4幅面)。
测量范围: 0.5μm~2000μm
测量方法: 透射:将样品置于载玻片上,运行专用软件,由电脑分析处理,计算数据。
            反射:将样品置于物镜下方,运行专用软件,由电脑分析处理,计算数据。
分析软件:提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据,配有多种图像分析和处理功能,可以满足各种图像处理需要。
图像分析处理:
  1.色调处理:负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整;
  2.图像矫正:水平镜像、垂直镜像、90度(逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小、任意比例缩放等;
  3.测量单位:微米、毫米、厘米、英吋任选;
  4.图像增强:对比度均衡、膨胀、腐蚀等;
  5.图像处理:图像锐化,边缘平滑,二值化,边界滤波,分析目标擦除、孔洞填充,手工擦除,手工连接,粒子属性查看、设置标尺、网格等功能;
  6.分析参数:
  (1)几何参数:每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置,像素;
  (2)当量几何参数:等面积圆直径,等周长圆直径,长径,短径,长径比;
  (3)外接几何参数:每个颗粒的外接圆直径;
  (4)光密度参数:图像 R、G、B、灰度分布;
  (5)形态学参数:长径比,圆度系数;
测量结果:颗粒形貌可存盘打印,还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求,设计磨料、
硅灰石等专用软件。
处理功能图示:
图像采集:可调整图像高度、宽度、分辨率等。

 

产品相关关键字: 显微图像分析仪 型号:KCJX-2000
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