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产品型号： |
ZH416 |
产品名称： |
两探针电阻率测试仪ρ：0.001～1000Ω•cm 型号：ZH416 |
产品报价： |
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产品特点： |
GDW3-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国标准及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法"设计。 |
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ZH416两探针电阻率测试仪ρ：0.001～1000Ω•cm 型号：ZH416的详细资料： |
| 两探针电阻率测试仪ρ：0.001～1000Ω•cm 型号：ZH416 | 货号：ZH416 | 产品简介
GDW3-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国标准及美国材料与试验树脂动态粘度计 协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。是对多晶材料的测量定性测试纸，由于多晶晶粒间界处，杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化，这种影响对四探针法为严重，故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。
本仪器除适合测量体形有规则的单晶棒外，也适合测量多晶棒。两探针法测量水平区熔多晶锗电阻率，在我国已有四十多年的实践经验，对区熔锗锭横截面面积的变化已总结出一套计算方法，本仪器采用李贺成提出的计算公式编写程序，可用微机HQ-710C处理区熔锗锭的测量数据，或采用KDY测量系统软件测量数据，并根据北京有色金属研究总院余怀之的提议，扩大了微处理机的数据处理范围。
本仪器主要由电气测量部份（简称：主机）、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，好地保护被测材料。仪器配置了本公司的产品：“小游移探针头”，间距为10mm的两探针头探针游移率在0.02～0.05%。了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机需配用HQ-710C数据处理器或KDY测量系统软件，置入须的数据后，处理器会配合探头在锗锭上移动测量，自动计算、打印出点的电阻率、电阻率的zui大值、电阻率zui小值，给测量带来很大方便。
主机参数
（1）测量范围：
可测电阻率：锗晶体0.1-100Ω·cm
可测锗锭尺寸：zui大长度700mm；zui大高度50mm；zui大宽度60mm。
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.004-100mA 五档连续可调
量程：0.004-0.01mA
0.04-0.10mA
0.4-1.0mA
4.0-10mA
40-100mA
恒流精度：档均优于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0-199.99mV
灵敏度：10μA
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输入阻抗：≥1000MΩ
（4）电阻测量误差：≤0.3%
（5）两探针头：KDT-5
探针间距：10.00±0.02mm
游移率：0.02-0.05%
探针压力：4±1N/单针
（6）供电电源：
AC 220V ±10% 50/60Hz 功率：12W
（7）使用环境：
温度：23±2℃ 相对温度：≤65%
较强的电场干扰，强光直接照射。
（8）重量、体积：
主机重量：7.5Kg
体积：390×340×190（单位：mm 长度×宽度×高度）
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| 产品相关关键字： 两探针电阻率测试仪ρ：0.001～1000Ω•cm 型号：ZH416 |
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