|
|
|
 |
 |
| |
|
产品型号： |
ZH420 |
产品名称： |
便携式电阻率测试仪/方阻测试仪（成套） GDSKDT-1 B探头 型号：ZH420 |
产品报价： |
 |
产品特点： |
1、半导体材料电阻率的及标准测试方法。2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。3、电阻率测量范围复盖Z常用的区段：0.01—199.9Ω·cm 。 |
|
| |
ZH420便携式电阻率测试仪/方阻测试仪（成套） GDSKDT-1 B探头 型号：ZH420的详细资料： |
| 便携式电阻率测试仪/方阻测试仪（成套） GDSKDT-1 B探头 型号：ZH420 | 货号：ZH420 | 产品简介
1、半导体材料电阻率的及标准测试方法。树脂动态粘度计
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖zui常用的区段：0.01—199.9Ω·cm 。
方块电阻测量范围复盖zui常用的区段：0.1—1999Ω/□。
4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、测量精度高：电器定性测试纸测量精度优于0.3%；
整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。
www.centrwin.com | 
| |
| 产品相关关键字： 便携式电阻率测试仪/方阻测试仪（成套） GDSKDT-1 B探头 型号：ZH420 |
| 如果你对ZH420便携式电阻率测试仪/方阻测试仪（成套） GDSKDT-1 B探头 型号：ZH420感兴趣，想了解更详细的产品信息，填写下表直接与厂家联系： |
|
| |
|
|
