本测试仪能够快速测试或判断封装的可控硅和双向可控硅的断态漏电流、反向漏电流、门触发电流、门触发电压、阴门漏电流、通态压降、通态平均电流、维持电流等参数。
本测试仪具有人工测试和接分选机自动测试等测试方式。人工测试时，与测试盒相连，在测试状态下，插入器件后，就开始测试，由人工根据显示的分档数进行分选；自动测试时，与分选机相连，由分选机输出的“开始测试信号”控制，对器件进行测试，并把分档结果送至分选机。
本测试仪内部预置可修改的方案，开机即可进行测试。用户也能够浏览并打印测试结果。本测试仪适合于生产厂家对封装的可控硅和双向可控硅进行大批量测试，也适合于应用厂家的筛选测试。
指 标
测试分辨率
漏 电 流：0.1uA
触发电流：0.1uA
触发电压：0.01V
通态平均电流：1mA
维持电流： 0.1mA
项测试时间
测试断态漏电流：≤20mS
测试反向漏电流：≤30mS
测试触发电流：≤30mS
测试触发电压：≤20mS
测试阴门漏电流：≤30mS
测试通态压降：≤30mS
测试通态平均电流：≤50mS
测试维持电流：≤50mS |
