少子寿命测定仪|微波光电导载流子复合寿命测试仪 货号：ZH11749 产品介绍： 本仪器配置数字存储示波器，软件依照寿命测量基本原理编写，采用了标准（MF28 及MF1535）中推荐的几种读数方法。 数字示波器具有存储功能，应用平均采样方式，平均次数可选4、16、32、64、128、256 次，随平均次数的增加随机噪声被减小，波形稳定、清晰。 微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI 标准MF1535-0707 及标准GB/T 26068-2010设计制造。本设备采用微波反射接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm 以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供接触、损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体的重要检测项目。 指标： 寿命测量范围：0.25μs～10ms； 电阻率下限：≥0.5Ω·cm，尚未发现电阻率测量上限。 型号：N 型或P 型单晶或铸造多晶。 红外光源波长：0.904～0.905μm； 外形尺寸：365×415×160mm 产品重量：13Kg 工作电源：～220V 50Hz 功耗范围：≤40W 基本配置： 100B寿命仪主机1台 数字示波器1台 信号线1条 校核片1片 156*156开方硅锭测试台1套 
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