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ZH7574型高精度薄膜测厚仪
点击次数：1888 更新时间：2010-12-04

高精度薄膜测厚仪
型号：ZH7574		  
产品简介:
适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等种材料的厚度测量。
产品特点：
1.微电脑控制、液晶显示
2.菜单式界面、PVC操作面板
3.接触式测量
4.测头自动升降
5.自动进样
6.手动、自动双重测量模式
7.数据实时显示、自动统计
8.显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力（非标可选）
11.显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.RS232接口
14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
指标：
测量范围：0～2mm；0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s
电    源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净    重：32kg
标    准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
标准配置：主机、标准量块一件
选 购 件：软件、通信电缆、测量头、配重砝码
 
 

 
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