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高精度引伸计标定仪LBWB-200A机械式高精度位移测微仪 |
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点击次数:763 更新时间:2016-09-23 |
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高精度引伸计标定仪 型号:LBWB-200A 货号:ZH10931 产品简介: 引伸计标定仪是一种机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762-2007引伸计检定规程及JJF1096-2002引伸计标定器校准规范的要求,用于对类引伸计的标定,也用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。 参照标准: JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范 ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定 JJG762-2007 引伸计检定规程 可进行0.5引伸计的标定 结构特点及读数方式: 1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合,同时配有加长立柱附件,配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样,可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试需要,配置配件进行精密微变形量计量。 2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其zui大量程25mm;zui小分度(游标分度)0.0002mm;旋转外筒分度0.002mm。 位移变化读数为: L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0) 其中:a-内筒毫米刻线读数 b-外筒刻线读数 c-游标刻线读数 a0,b0,c0 为相应位移变化前读数 参数: 测量引伸计标距范围:Lmax 500mm 测量支座上支臂安装孔径:φ10;φ28 微分测头读数内筒轴向刻度:0.5mm/格 微分测头读数内筒游标刻度:0.0002mm/格 微分测头读数外筒圆周刻度:0.002mm/格 高精密微分测头精度示值误差指标 量程0.5mm以内≤0.5μm 误差 量程0.5mm以上≤0.10% 逐点相对误差 使用说明 请依据JJG762-92引伸计检定规程及JJF1096-2002引伸计标定器校准规范的要求,进行引伸计的检定: 1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格,选择与测试试样基本的分离试样。 2、调整两测量支臂的位置,获得适宜的检定空间;调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样同轴;调整测微头与下底座的距离,以测微头的行程。调整好后注意旋紧个所需固紧部位,在检定过程中除准许运动位移的部分外,都不准许有滑动或松动。 3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试: (1)检定范围应根据引伸计需要测试材料的参数决定。例如,使用50mm标距引伸计测试钢材试样的σP0.2数据,那么请您选择1mm的检定量程。如果测量n值则需要检定25mm的检定量程。 (2)对检定点的选择,一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1mm的检定量程内,检定10点,即每0.1mm检一点。 (3)检定引伸计时用整数刻度倍读法,不游标估算读数或小数尾数读数,因为每的十点读数已造成了读数的疲劳,估算读数或小数尾数读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法zui清晰简单准确,出现误差的机率zui小,即便出现也会及时发现,因为整数刻度倍读数的误差,其引伸计误差值也会成倍数增加,这种粗大误差会被很快及时发现。 4、加长立柱的使用:在使用基本立柱检定引伸计时,法该引伸计的标距空间时,取掉基本立柱上保护帽,将加长立柱插入主立柱对准V型槽,旋紧上螺丝。要固紧后,方可使用。 测量附件: 组合校准杆2件。用于组合多种模拟分离试样。 刀片4件。装置于组合校准杆上:用于COD或JIC夹规检定。 横试片2件。装置于组合校准杆上:用于横向引伸计的检定。 板件2件。装置于组合校准杆上:用于模拟板材试样的检定。 φ10×100杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟10mm以上直径试样的检定。 φ10×50杆件1件。置于测微头连接套内用于模拟10mm以上直径试样的检定。 φ10/φ5×100变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5mm以下直径试样的检定。 φ10/φ5×50变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5mm以下直径试样的检定。 170mm加长立柱1件。用于延长标定仪高度。 联接套1件。置于微分测头滑动量杆φ10端头上,连接分离试样进行检定。 为调试及安装方便,随仪器配有14号呆扳手一把、3号内六角扳手一把、一字头、十字头螺丝刀一把。 维护与保养: 1、上、下支臂拆装时,应防止定位钉或钢球的脱落,抱紧卡口过紧只允许用螺钉顶开。 2、仪器出厂时微分头精度已调校,使用中不得自行拆卸。 3、应在清洁尘环境使用,并注意保持仪的清洁尘。 4、注意防止外力损伤及锈蚀的产生。 |
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